河南省信阳市平桥横担绝缘子XP1-120

绝缘子的基本性能包括电气、机械和热性能。此外，还有耐环境和耐老化等性能。①电气性能：沿着绝缘表面发生的破坏性放电称为闪络，闪络特性是绝缘子的主要电气性能。对于不同电压等级，绝缘子的耐受电压要求各不相同，其指标有工频干、湿耐压、雷电冲击耐压、雷电冲击截波耐压、操作冲击耐压等。为避免在运行中击穿，绝缘子的击穿电压高于闪络电压。在出厂试验中，可击穿型的瓷绝缘子一般经过火花试验，即加高压使绝缘表面发生频繁的火花，维持一定时间，看是否被击穿。某些绝缘子还需经过电晕试验，无线电干扰试验，局部放电试验和介质损耗试验等。高海拔地区绝缘子，因空气密度下降而使电气强度下降，因此，其耐受电压换算到标准大气条件时应相应提高。污秽绝缘子受潮时的闪络电压大大低于其干、湿闪络电压，因此，污秽地区须加强绝缘或采用耐污型绝缘子，其爬电比距（爬电距与额定电压之比值）应较正常型高。直流绝缘子与交流绝缘子相比较，其电场分布较差，又有吸附污粒和电解作用，闪络电压较低，一般要求有特殊的结构设计和更大的爬电距离。②机械性能：绝缘子在运行中常受到导线的重力和张力、风力、覆冰重量、绝缘子自重、导线振动、设备操作机械力、短路电动力、地震和其他机械力的作用。有关标准对机械性能规定有严格的要求。③热性能：户外绝缘子要求有耐受温度急变的能力。例如瓷绝缘子要求经几次冷热循环而不开裂。绝缘套管因有电流通过，其零部件和绝缘件的温升以及容许短时电流值均须符合有关标准的规定。户内支柱绝缘子按国标GB8287.1~8287.2《高压支柱瓷绝缘子》制造。Z——户内外胶装支柱绝缘子；ZN——户内内胶装支柱绝缘子；ZL——户内联合胶装支柱绝缘子；对于外胶装支柱绝缘子，破折号前字母L表示多棱式，字母A、B、D表示机械破坏负荷分别为3.75，7. 5，20kN。字母后分数，分子表示额定电压千伏数，分母为机械破坏负荷kN数。N——内胶装上下附件为单螺孔者；Y——外胶装和联合胶装下附件为圆形者；T——外胶装下附件为椭圆形者；F——外胶装下附件为方形者；G——高原型（老产品为GY）有些增强子位于启动子上游，有些位于下游，所以绝缘子的效应并不取决于绝缘子同启动子的相对位置。因此，对绝缘子效应的方向性的原因还没有真正弄清楚。目前已发现有两个基因座以反式活化方式影响绝缘子的功能。基因S2J(Hw)编码的核蛋白识别绝缘子，绝缘子同其结合后才有绝缘作用。当该基因突变后，尽管y基因座中插入了绝缘子，但失去了绝缘作用，y在所有组织中都表达。另一个基因座是mod(mdg 4)，该基因发生突变后，其效应正好与Su(Hw)相反，即这些突变型都增强了绝缘作用，使绝缘子的绝缘效应不再有方向性而得到扩展，也就是阻断了上游和下游两侧的增强子的效应。有一种解释认为先是Su(Hw)同绝缘子DNA结合后，使绝缘子有绝缘效应。mod(mdg4)同Su(Hw)结合，使绝缘子失去绝缘效应；突变的mod(mdg4)不能同Su(Hw)结合，于是绝缘子又增强了绝缘作用。

高压电线连接塔的一端挂了很多盘状的绝缘体,它是为了增加爬电距离的,通常由玻璃或陶瓷或橡胶制成,就叫绝缘子。为了防止浮尘等污秽在绝缘子表面附着,形成通路被绝缘子两端闪络击穿,即爬电.故增大表面距离,即爬距,沿绝缘表面放电的距离即泄漏距离叫爬距.爬距=表面距离/系统电压.根据污秽程度不同,重污秽地区一般采用爬距为31毫米/每千伏。 　零值绝缘子指的是在运行中绝缘子两端的电位分布接近零或等于零的绝缘子。 　零值或低值绝缘子的影响：线路导线的绝缘依赖于绝缘子,由于制造缺陷 或外界的作用,如：绝缘子表面过脏，雷击等。绝缘子的绝缘性能会不断劣化,当绝 缘电阻降低或为零时称为低值或零值绝缘子.。 绝缘子是光滑的，可以减少电线之间的容抗作用，以减少电流的流失。随着我国特高压交直流线路的建设和对机械强度使用要求的不断提高，纯瓷支柱绝缘子的问题也越来越突出，在特高压直流换流站中的问题更为突出，主要表现在：①外绝缘问题。随着运行环境的日趋恶化，瓷支柱绝缘子抗污闪能力不足。对于特高压直流而言，纯瓷支柱绝缘子要求很大的爬电距离和结构，而过高的支柱绝缘子难以达到较强的抗弯和抗震强度。②抗地震问题。以电瓷支柱绝缘子为绝缘部件的高压设备，简称为电瓷型高压设备，这类设备的抗震问题一直难以很好地解决。在2008年的汶川大地震中，高压设备损坏的大部分原因是瓷套管断裂。对于特高压直流系统而言，用于平波电抗器的支柱绝缘子要求整体高度12m，支撑质量40t，而换流站地点在地震多发区的云南楚雄，显然瓷支柱绝缘子要满足抗震要求是十分困难的。③制造质量问题。瓷支柱绝缘子由于其本身工艺复杂、设备条件、原材料质量问题等限制，制造难度很大。原电力公司发输电运营部高压支柱瓷绝缘子事故调查工作小组在大量调研的基础上，按技术原因统计瓷支柱绝缘子的事故情况，得出造成支柱瓷绝缘子断裂，产品质量原因占大多数的结论。